Oberflächenanalytik

Innovative Produkte werden zunehmend durch ein maßgeschneidertes Oberflächendesign veredelt, dessen Prozesse und Oberflächenzusammensetzungen bis in den submikroskopischen oder gar atomaren Bereich kontrolliert werden müssen. Denn Haftung, Benetzung, Verschleiß oder Korrosion werden bereits durch geringste Kontaminationen beeinflusst. Die exakte Charakterisierung der chemischen, physikalischen und morphologischen Oberflächeneigenschaften von Materialien, Werkstücken, Bauteilen und Pulvern ist somit während der Produktentwicklung, in der Prozesskontrolle und Qualitätssicherung sowie in der Schadensanalytik unerlässlich. Nur moderne Methoden der Oberflächenanalytik ermöglichen den Zugang zu diesen Informationen.

 

Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS)

bzw. Elektronenspektroskopie zur chemischen Analyse (ESCA) mit Auger-Elektronenspektroskopie und REM

 

Hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie (FE-REM)

mit elektronen- und röntgeninduzierter EDX Analytik

 

Kontakt- und Randwinkelanalyse

 

Infrarotspektroskopie und -mikroskopie (FT-IR)

Lichtmikroskopie und Fluoreszenz-Mikroskopie

 

Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rastertunnelmikroskopie (STM)

 

Raman-Spektroskopie und -Mikroskopie

 

 

 

Spektroskopische und abbildende Ellipsometrie

Rückblick | September 2023

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